E-Test (elektrische Prüfung) | Leiterplatten-Lexikon

E-Test (elektrische Prüfung)

E-Test (elektrische Prüfung oder elektrische Prüfung) ist ein Verfahren zur Prüfung der Leiterplatten auf Kurzschlüsse oder offene Verbindungen. Für den elektrischen Test werden entweder so genannte Adapter verwendet, oder wenn es sich nur um wenige Leiterplatten handelt, werden Nadeltester benutzt. Durch das Erstellen von Netzlisten ist es möglich, in einem E-Test zu überprüfen, ob ein Netz eine offene Stelle aufweist. Etwas komplizierter ist das Testen auf ungewollte Verbindungen. Während bei offenen Verbindungen lediglich Anfangs- und Endpunkte des Netzes angefahren werden müssen, um eine Unterbrechung der Leiterbahn feststellen zu können, muss bei Kurzschlussprüfungen ein Abgleich auf angrenzende Netze erfolgen. Diese Methode ist daher bei der Erstellung des Testprogramms erheblich aufwändiger, im Falle von Finger-Testern zeitintensiv und in der Berechnung der Testroutinen selten 100% sicher (was theoretische eine Prüfung von jedem Netz zu jedem Netz erfordern würde). Ebenfalls können übermäßige Leiterbahneinschnürungen von einem elektrischen Tester oft nicht erkannt werden, da eine eingeschnürte Verbindung für den elektrischen Test oft noch einen ausreichend geringen Widerstand im Test aufweist und die Verbindung als "okay" bewertet wird. Entgegen der allgemeinen Annahmen gibt ein elektrischer Test daher keine 100%ige Sicherheit und eine optische Kontrolle ist als Ergänzung erforderlich.